紫外線強(qiáng)度計(jì)日本EMIC艾美克磁粉探傷儀
簡(jiǎn)要描述：
紫外線強(qiáng)度計(jì)日本EMIC艾美克磁粉探傷儀通過(guò)采用0-45mW / cm2的超寬范圍峰值保持功能，可顯著降低功耗
產(chǎn)品型號(hào)：UV-D3
產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-22
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紫外線強(qiáng)度計(jì)日本EMIC艾美克磁粉探傷儀
通過(guò)采用
0-45mW / cm2的超寬范圍
峰值保持功能，可顯著降低功耗
測(cè)量熒光探傷所需的紫外線強(qiáng)度
| 測(cè)量范圍 | 0.00-45.00毫瓦/平方厘米 |
|---|---|
| 準(zhǔn)確性 | 0.00-6.00mW / cm2：±0.30mW / cm2 |
| 功能 | ?峰值保持，保持 |
| 外形尺寸 | 寬95mm x深135mm x高27mm |
| 配件 | 儲(chǔ)物箱，使用說(shuō)明書各1本 |
紫外線強(qiáng)度計(jì)日本EMIC艾美克磁粉探傷儀
其他用于磁粉探傷的輔助設(shè)備
可以使用多種輔助設(shè)備來(lái)檢測(cè)磁性粉末缺陷，例如輔助線圈MC系列。
銅網(wǎng)C-300
磁化電纜
腳踏開關(guān)FS-1H
產(chǎn)品接觸器CP-2H（3H）
除塵器PCT-100
試件
介紹諸如膠帶測(cè)試片，JIS-A型測(cè)試片和ASTM測(cè)試片之類的測(cè)試片
膠帶測(cè)試片TP-10（用于控制磁粉濃度）
JIS-A型試片STP-1
ASTM試件
磁粉探傷磁粉檢查
關(guān)于磁粉探傷
利用從刮擦部分產(chǎn)生的“漏磁通”現(xiàn)象，通過(guò)使測(cè)試片磁化而散布在表面上的鐵磁磁性粉末（或熒光磁性粉末）被吸附在刮擦部分上。觀察并發(fā)現(xiàn)劃痕。
磁粉探傷系列
自動(dòng)磁粉探傷機(jī)
通過(guò)用新的圖像處理軟件代替高速CCD相機(jī)并執(zhí)行高速實(shí)時(shí)檢查以確定人眼是否存在缺陷，我們實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)。
臥式濕式磁粉探傷機(jī)
它是將磁化電源集成到具有磁化電極，磁化線圈，磁粉儲(chǔ)液罐，磁粉噴涂機(jī)構(gòu)和工作臺(tái)的磁化處理裝置中的裝置。
磁化電源
磁化電源用于在進(jìn)行磁粉探傷時(shí)磁化檢查對(duì)象。我們提供多種類型以滿足您的需求。
磁粉探傷定做機(jī)
我們擁有各種定制機(jī)器，例如傳送帶式磁粉探傷儀，用于硬化零件的磁粉探傷儀和用于大型軸承的磁粉探傷儀。
約克型磁粉探傷儀
便攜式磁極探傷儀，用于磁粉探傷測(cè)試。我們處理所有探傷場(chǎng)景中已采用的Um系列。
黑光
我們將引導(dǎo)您通過(guò)多種黑光，例如可以調(diào)節(jié)UV強(qiáng)度的黑光，非常適合探傷檢測(cè)。
磁粉探傷輔助設(shè)備
我們處理各種用于磁粉探傷檢查的輔助設(shè)備，例如紫外線強(qiáng)度儀，簡(jiǎn)易磁粉濃度儀和特斯拉計(jì)。
劃痕檢測(cè)耗材
我們處理各種用于探傷的耗材，例如熒光磁粉，濃縮熒光磁粉液體和分散溶劑。
可清洗的熒光滲透探傷儀
可水洗的探傷系統(tǒng)，檢查飛機(jī)部件的設(shè)備等。我們擁有檢查大型到大型零件的設(shè)備。
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